一种高效导电粒子检测装置

专利摘要:
本发明提供一种高效导电粒子检测装置，包括机架、定位测高模组、视觉检测模组、运动载物平台以及电气控制模组，定位测高模组用于监测距运动载物平台上承载产品的位置和高度；视觉检测模组包括微分干涉显微镜系统和升降组件，微分干涉显微镜系统设置在升降组件上并可在其带动下进行升降运动，微分干涉显微镜系统采集产品表面特征；运动载物平台用于承载产品并带动产品移动调节位置；电气控制模组，用于控制检测装置的运行过程。该装置能排除人为参与对产品接触的不良影响而完全取代人力，减小劳动强度，节省成本，而且该装置可以一次性检测玻璃产品上所有的缺陷，且不会对产品造成损伤，检测效率高，产品检测的一致性强，轻松实现全程自动化。
公开号:CN214334700U
申请号:CN202022803337.XU
申请日:2020-11-28
公开日:2021-10-01
发明作者:武宏昌；邓何明；徐飞
申请人:Shenzhen Jingchuang Technology Co ltd；
IPC主号:G01N21-88

专利说明:
[n0001] 本发明属于光学检测领域，具体涉及一种高效导电粒子检测装置。
[n0002] 随着现代社会的高速发展，人们生活的丰富绚丽，满足人们生活的各种现代产品越来越多，其中电子产品占据了很大一部分，电子产品上的显示屏以液晶屏为主，液晶屏的使用效果直接体现在屏的品质上，品质体现在一道道加工及检测工艺中，目前绝大多数液晶盒玻璃和IC器件的连接都采用COG技术（晶粒-玻璃接合技术），在COG技术中主要是利用ACF（各向异性导电膜）进行连接，其粒子排列是否均匀决定了品质的高低，因此检测过程十分重要，目前对COG技术中的ACF粒子检测主要为人工通过显微镜对热压后的粒子进行观察，判断热压是否合格，ACF粒子是否均匀，但是人工判断的主观性很大，人眼长时间观察出错的概率也极大，最主要的是产品的品质很难稳定掌控，品质一致性差，另外该检测工作对人员的熟练程度要求很高，作业员的劳动强度很高，这种人工检测对产品造成损伤的概率也打，效率又低。
[n0003] 鉴于以上，本发明提供一种高效快速的导电粒子检测装置，该装置能排除人为参与对产品接触的不良影响而完全取代人力，减小劳动强度，节省成本，而且该装置可以一次性检测玻璃产品上所有的缺陷，且不会对产品造成损伤，检测效率高，产品检测的一致性强，轻松实现全程自动化。
[n0004] 具体技术方案如下：
[n0005] 一种高效导电粒子检测装置，其特征在于：包括机架、定位测高模组、视觉检测模组、运动载物平台以及电气控制模组，
[n0006] 所述定位测高模组和视觉检测模组并列的固定在机架上的一侧，运动载物平台固定在机架上的另一侧，所述定位测高模组包括定位CCD和激光位移传感器，通过支撑架固定在机架上，用于监测距运动载物平台上承载产品的位置和高度；
[n0007] 所述视觉检测模组包括微分干涉显微镜系统和升降组件，微分干涉显微镜系统设置在升降组件上并可在其带动下进行升降运动，微分干涉显微镜系统采集产品表面特征；
[n0008] 所述运动载物平台包括横向运动机构、纵向运动机构和旋转平台，用于承载产品并带动产品移动调节位置；
[n0009] 所述电气控制模组分别与定位测高模组、视觉检测模组、运动载物平台电性连接，用于控制检测装置的运行过程。
[n0010] 进一步，所述定位CCD下方设置有环形光源。
[n0011] 进一步，所述微分干涉显微镜系统包括相机、调焦机构和目镜组件，所述相机通过镜筒设置在所述调焦机构上，所述微分干涉显微镜系统通过调焦机构固定在所述升降组件上。
[n0012] 进一步，所述升降组件包括升降导轨、安装块、升降电机和固定板，所述升降导轨固定在固定板上，安装板活动的设置在升降导轨上，并可在升降电机的驱动下在升降导轨上进行升降运动，所述调焦机构固定的安装在所述安装板上。
[n0013] 进一步，所述固定板通过支撑架固定在所述机架上。
[n0014] 进一步，所述横向运动机构包括安装座、横移导轨和横向动板，所述纵向运动机构固定在横向动板上并可随横向动板在所述横移导轨上进行横向运动，所述横移导轨通过安装座固定的设置在所述机架上。
[n0015] 进一步，所述纵向运动机构包括纵移导轨和纵向动板，所述纵向动板活动的设置在纵移导轨上，所述纵移导轨固定的设置在所述横向动板上。
[n0016] 进一步，所述旋转平台设置在纵向动板中心，所述旋转平台可进行旋转，其上方设置载台。
[n0017] 进一步，所述运动载物平台还包括若干电机，分别驱动横向运动机构、纵向运动机构和旋转平台的运动。
[n0018] 进一步，位于所述升降导轨的上、下两端分别设置有上限位挡块和下限位挡块，上限位挡块和下限位挡块固定在固定板上。
[n0019] 本发明附加的方面和优点将在下面的描述中进一步给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
[n0020] 本发明的上述和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[n0021] 图1所示为高效导电粒子检测装置整体结构示意图；
[n0022] 图2所示为定位测高模组结构示意图；
[n0023] 图3所示为视觉检测模组结构示意图；
[n0024] 图4所示为运动载物平台结构示意图；
[n0025] 其中，1-机架，2-定位测高模组，20-定位CCD，21-激光位移传感器，22-环形光源；
[n0026] 3-视觉检测模组，30-相机，31-镜筒，32-调焦机构，33-目镜组件，34-升降导轨，35-安装板，36-固定板，37-升降电机，38-上限位挡块，39-下限位挡块；
[n0027] 4-运动载物平台，40-横移导轨，41-横向动板，42-纵移导轨，43-纵向动板，44-旋转平台，45-载台；
[n0028] 5-支撑架，6-底板，7-安装座，8-电机。
[n0029] 下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。
[n0030] 在本发明的描述中，需要理解的是，术语 “上”、“下”、“底”、“顶”、“前”、“后”、“内”、“外”、“横”、“竖”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
[n0031] 图1示出了本发明高效导电粒子检测装置的一种实施例结构示意图，也是一种优选实施例示意图。本发明高效导电粒子检测装置，包括机架1、定位测高模组2、视觉检测模组3、运动载物平台4以及电气控制模组，定位测高模组2和视觉检测模组3并列的固定在机架1上的一侧，运动载物平台4固定在机架1上的另一侧，定位测高模组2包括定位CCD 20和激光位移传感器21，通过支撑架5固定在机架1上，用于监测距运动载物平台4上承载产品的位置和高度；视觉检测模组3包括微分干涉显微镜系统和升降组件，微分干涉显微镜系统设置在升降组件上并可在其带动下进行升降运动，微分干涉显微镜系统采集产品表面特征；运动载物平台4包括横向运动机构、纵向运动机构和旋转平台，用于承载产品并带动产品移动调节位置；电气控制模组分别与定位测高模组2、视觉检测模组3、运动载物平台4电性连接，用于控制检测装置的运行过程。
[n0032] 本发明更为具体的实现方式结合图2-4进行以下具体展开：
[n0033] 优选的，本实施例中定位测高模组2的定位CCD下方设置有环形光源22，为相机提供充足照明。
[n0034] 如图3所示，微分干涉显微镜系统包括相机30、调焦机构32和目镜组件33，相机30通过镜筒31设置在调焦机构32上，微分干涉显微镜系统通过调焦机构32固定在升降组件上。升降组件包括升降导轨34、安装块35、升降电机37和固定板36，升降导轨34固定在固定板36上，安装板35活动的设置在升降导轨34上，并可在升降电机37的驱动下在升降导轨34上进行升降运动，调焦机构32固定的安装在安装板35上。固定板36通过支撑架5固定在机架1上。档检测时通过升降粗调焦距，使用调焦机构32精调焦距。
[n0035] 如图4所示，横向运动机构包括安装座7、横移导轨40和横向动板41，纵向运动机构固定在横向动板41上并可随横向动板41在横移导轨40上进行横向运动，横移导轨40通过安装座7固定的设置在机架1上，安装座7固定在机架1顶部的底板6上。纵向运动机构包括纵移导轨42和纵向动板43，纵向动板43活动的设置在纵移导轨42上，纵移导轨42固定的设置在横向动板41上。旋转平台44设置在纵向动板43中心，旋转平台44可进行旋转，其上方设置载台45，用来承载玻璃产品。
[n0036] 优选的，运动载物平台4还包括若干电机，分别驱动横向运动机构、纵向运动机构和旋转平台的运动。
[n0037] 优选的，位于升降导轨34的上、下两端分别设置有上限位挡块38和下限位挡块39，上限位挡块38和下限位挡块39固定在固定板36上。
[n0038] 需要说明的是，本发明高效导电粒子检测装置还具有外罩，用于保护内部结构，具有计算机和显示器，处理数据并显示结果。另外，本实施例中没有对电气控制模组做具体的展示，然而根据发明的相关内容可以理解，定位测高模组2、视觉检测模组3、运动载物平台4需要与其电性连接，并在其控制下完成整个分料工作，在本实施例中电气控制模组可以为基于可编程控制器PLC（Programmable Logic Controller）的工控机，因其为成熟技术且不影响本发明的理解，故在此不作具体展开说明。
[n0039] 以下具体展示高效导电粒子检测装置的检测过程，参考图1—图4，步骤为：
[n0040] 1、作业员将待检测的产品放到产品载台45上；
[n0041] 2、定位测高模组2对载台45上的待测产品定位及测量距产品的高度；
[n0042] 3、视觉检测模组3根据定位测高模组2获得的高度数据调整微分干涉显微镜的检测高度，即调整焦距；
[n0043] 4、运动载物平台4根据定位测高模组2的反馈，带动产品在视觉检测模组3下进行横向或纵向移动或旋转，进一步调整检测位置，由视觉检测模组3完成对产品的采图；
[n0044] 5、计算机软件算法完成对采集到的产品图像的处理，将检测结果输出。
[n0045] 本实施例的高效导电粒子检测装置可实现对产品缺陷高效快速的检测，可以根据产品的不同厚度，自动调节检测焦距，对产品的厚度适应性很强，能极大程度的满足各类产品的检测需求，精准高效的检测可以提高产品的品质，降低劳动强度，节省人力和成本，提高效率。
[n0046] 尽管参照本发明的示意性实施例对本发明的具体实施方式进行了详细的描述，但是必须理解，本领域技术人员可以设计出多种其他的改进和实施例，这些改进和实施例将落在本发明原理的精神和范围之内。具体而言，在前述公开、附图以及权利要求的范围之内，可以在零部件和/或者从属组合布局的布置方面作出合理的变型和改进，而不会脱离本发明的精神。除了零部件和/或布局方面的变型和改进，其范围由所附权利要求及其等同物限定。

权利要求:
Claims (10)
[0001] 1.一种高效导电粒子检测装置，其特征在于：包括机架、定位测高模组、视觉检测模组、运动载物平台以及电气控制模组，
所述定位测高模组和视觉检测模组并列的固定在机架上的一侧，运动载物平台固定在机架上的另一侧，所述定位测高模组包括定位CCD和激光位移传感器，通过支撑架固定在机架上，用于监测距运动载物平台上承载产品的位置和高度；
所述视觉检测模组包括微分干涉显微镜系统和升降组件，微分干涉显微镜系统设置在升降组件上并可在其带动下进行升降运动，微分干涉显微镜系统采集产品表面特征；
所述运动载物平台包括横向运动机构、纵向运动机构和旋转平台，用于承载产品并带动产品移动调节位置；
所述电气控制模组分别与定位测高模组、视觉检测模组、运动载物平台电性连接，用于控制检测装置的运行过程。
[0002] 2.根据权利要求1所述的高效导电粒子检测装置，其特征在于，所述定位CCD下方设置有环形光源。
[0003] 3.根据权利要求1所述的高效导电粒子检测装置，其特征在于，所述微分干涉显微镜系统包括相机、调焦机构和目镜组件，所述相机通过镜筒设置在所述调焦机构上，所述微分干涉显微镜系统通过调焦机构固定在所述升降组件上。
[0004] 4.根据权利要求3所述的高效导电粒子检测装置，其特征在于，所述升降组件包括升降导轨、安装块、升降电机和固定板，所述升降导轨固定在固定板上，安装板活动的设置在升降导轨上，并可在升降电机的驱动下在升降导轨上进行升降运动，所述调焦机构固定的安装在所述安装板上。
[0005] 5.根据权利要求4所述的高效导电粒子检测装置，其特征在于，所述固定板通过支撑架固定在所述机架上。
[0006] 6.根据权利要求1所述的高效导电粒子检测装置，其特征在于，所述横向运动机构包括安装座、横移导轨和横向动板，所述纵向运动机构固定在横向动板上并可随横向动板在所述横移导轨上进行横向运动，所述横移导轨通过安装座固定的设置在所述机架上。
[0007] 7.根据权利要求6所述的高效导电粒子检测装置，其特征在于，所述纵向运动机构包括纵移导轨和纵向动板，所述纵向动板活动的设置在纵移导轨上，所述纵移导轨固定的设置在所述横向动板上。
[0008] 8.根据权利要求7所述的高效导电粒子检测装置，其特征在于，所述旋转平台设置在纵向动板中心，所述旋转平台可进行旋转，其上方设置载台。
[0009] 9.根据权利要求1所述的高效导电粒子检测装置，其特征在于，所述运动载物平台还包括若干电机，分别驱动横向运动机构、纵向运动机构和旋转平台的运动。
[0010] 10.根据权利要求4所述的高效导电粒子检测装置，其特征在于，位于所述升降导轨的上、下两端分别设置有上限位挡块和下限位挡块，上限位挡块和下限位挡块固定在固定板上。

类似技术:

---

公开号 | 公开日 | 专利标题

---

TWI333544B|2010-11-21|Substrate inspection apparatus

---

KR20100023258A|2010-03-04|평판디스플레이 패널 검사 장비 및 방법

---

JP6104016B2|2017-03-29|液晶パネル検査装置

---

CN103175847A|2013-06-26|光栅表面缺陷检测装置

---

JP2002082067A|2002-03-22|基板検査装置

---

CN104534995A|2015-04-22|光学测量设备

---

CN209736110U|2019-12-06|一种ccd视觉检测设备

---

CN108594494A|2018-09-28|一种不带fpc液晶屏自动检测流水线

---

CN108254383A|2018-07-06|一种高精度光纤适配器视觉检测设备

---

CN1220032C|2005-09-21|线宽测定方法和线宽测定装置

---

CN108489715A|2018-09-04|一种面板的自动光学检测设备

---

CN102183578B|2013-06-19|一种轮对荧光磁粉探伤机

---

CN214334700U|2021-10-01|一种高效导电粒子检测装置

---

JP4354941B2|2009-10-28|バックライトユニットのビジョン及び輝度検出システム

---

KR20190097768A|2019-08-21|평판디스플레이 패널 검사 방법 및 장비

---

CN109084709A|2018-12-25|一种自动检测装置

---

KR20130125127A|2013-11-18|액정표시장치용 불량 검사 장치 및 그의 검사방법

---

CN208125632U|2018-11-20|一种高精度光纤适配器视觉检测设备

---

KR20140101066A|2014-08-19|패널의 자동 압흔 검사장치

---

CN108120665A|2018-06-05|单色结构光检查微小颗粒的方法及设备

---

CN108827508A|2018-11-16|多功能自动偏光应力仪

---

CN212341629U|2021-01-12|一种屏幕模组组装偏位检测器

---

CN208579908U|2019-03-05|一种面板的自动光学检测设备

---

CN210834691U|2020-06-23|视觉检测装置

---

CN209028011U|2019-06-25|一种直线型光纤质量检测装置

同族专利:

---

公开号 | 公开日

---

引用文献:

---

公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题

---

法律状态:
2021-10-01| GR01| Patent grant|

---

2021-10-01| GR01| Patent grant|

优先权:

---

申请号 | 申请日 | 专利标题

---

CN202022803337.XU|CN214334700U|2020-11-28|2020-11-28|一种高效导电粒子检测装置|CN202022803337.XU| CN214334700U|2020-11-28|2020-11-28|一种高效导电粒子检测装置|